第830章芯片進(jìn)展2
設(shè)計(jì)負(fù)責(zé)人臉上的自豪感褪去,變得凝重起來。
他看向了工藝整合負(fù)責(zé)人和設(shè)計(jì)-工藝產(chǎn)品線總裁孟良凡。
馮庭波適時(shí)接話:
“塵風(fēng)總問到了核心。
設(shè)計(jì)只是藍(lán)圖,制造才是將藍(lán)圖變?yōu)楝F(xiàn)實(shí)的關(guān)鍵。
下面,就請工藝團(tuán)隊(duì)和孟總,為我們揭示‘獵人’芯片在14nmFinFET平臺上的真實(shí)情況?!?/p>
工藝整合負(fù)責(zé)人深吸一口氣,站了起來。
他操作投影,畫面切換到了一張令人眼花繚亂的多維度圖表:14nmFinFET工藝平臺良率追蹤圖。
上面布滿了各種顏色的曲線,代表著不同批次的晶圓、不同的測試結(jié)構(gòu)、在不同的關(guān)鍵工藝節(jié)點(diǎn)上的良率表現(xiàn)。
“姚總的問題非常直接,我也直接回答?!?/p>
他的聲音努力保持平靜,但能聽出緊張。
“‘獵人’芯片,是基于我們?nèi)A興EDA團(tuán)隊(duì)與海思共同開發(fā)的新一代PDK進(jìn)行設(shè)計(jì)和仿真的。
其仿真模型,大量參考了孟教授團(tuán)隊(duì)帶來的理論模型和中芯國際產(chǎn)線的早期數(shù)據(jù)?!?/p>
他指向圖表的核心區(qū)域,一條原本劇烈波動但近期逐漸趨于平穩(wěn)的曲線:
“這就是‘獵人’芯片核心計(jì)算模塊的MPW試產(chǎn)良率趨勢。
經(jīng)過五輪艱苦的工藝迭代和設(shè)計(jì)優(yōu)化,其綜合良率,已從最初的令人絕望的31%,提升并穩(wěn)定在68。5%。
最近三個批次的波動范圍已經(jīng)控制在±2%以內(nèi)。”
“68。5%?”
姚塵風(fēng)身體前傾,手指停止了敲擊,語氣中混合著驚訝和欣喜。
“如果我沒記錯,上次季度匯報(bào),這個數(shù)字還在45%徘徊。
這個爬坡速度,超出了我們內(nèi)部的預(yù)期。
怎么做到的?”
“是的,姚總,提升速度確實(shí)超預(yù)期。”
負(fù)責(zé)人語氣肯定,也有振奮。
“突破主要來自三個方面: