代工廠那邊最新的工藝模型數(shù)據(jù)有沒(méi)有同步導(dǎo)入驗(yàn)證環(huán)境?”
他通過(guò)Welink聯(lián)系負(fù)責(zé)該模塊的劉姓工程師。
“鐘部長(zhǎng),剛跑完最后一輪對(duì)比測(cè)試,精度完全達(dá)標(biāo),甚至比預(yù)期的還好!
PDK數(shù)據(jù)已經(jīng)同步了,正在做兼容性檢查,目前沒(méi)有報(bào)錯(cuò)?!?/p>
耳機(jī)里傳來(lái)劉工略顯興奮但又克制的聲音,顯然也是獲得了理想的成績(jī)。
“非常好!
把測(cè)試報(bào)告和日志發(fā)我一份,重點(diǎn)標(biāo)注一下與上一版工具的差異點(diǎn)。
另外,讓測(cè)試組的同事加緊壓力測(cè)試,模擬超大規(guī)模設(shè)計(jì)的負(fù)載情況,不能只看理想狀態(tài)?!?/p>
鐘耀祖指示道。
“明白鐘部長(zhǎng),我馬上安排?!?/p>
剛結(jié)束通話,另一個(gè)窗口彈出消息,是負(fù)責(zé)AI布局優(yōu)化算法的王博士:
“耀祖部長(zhǎng),有個(gè)情況。
我們新迭代的布局算法在7nm工藝的一個(gè)測(cè)試案例上,時(shí)序收斂效果比預(yù)期差了百分之三左右。
初步分析可能和新的布線擁塞預(yù)測(cè)模型有關(guān),也可能是工藝角覆蓋不夠全面。
需要你幫忙看看決策樹(shù)那里是否需要調(diào)整?!?/p>
鐘耀祖立刻回復(fù):
“把測(cè)試案例、收斂報(bào)告以及新模型的調(diào)試日志發(fā)給我。
同時(shí),啟動(dòng)B方案,用之前的穩(wěn)定版本先確保這個(gè)案例能過(guò)。
算法優(yōu)化不能影響當(dāng)前項(xiàng)目的交付節(jié)點(diǎn)。
半小時(shí)后我們開(kāi)個(gè)短會(huì)討論。”
處理完這些,他又點(diǎn)開(kāi)了自己負(fù)責(zé)的AI驅(qū)動(dòng)芯片性能建模工具的代碼評(píng)審界面,仔細(xì)查看團(tuán)隊(duì)成員剛提交的幾處關(guān)鍵修改。
他在一行關(guān)于熱效應(yīng)模擬的代碼旁添加了批注:
“此處閾值設(shè)定缺乏動(dòng)態(tài)適應(yīng)性,建議參考我們上次討論的論文第三章的方法,引入機(jī)器學(xué)習(xí)預(yù)測(cè)模塊進(jìn)行實(shí)時(shí)調(diào)整,以應(yīng)對(duì)不同工作負(fù)載下的熱變化。
可先在小規(guī)模模塊上驗(yàn)證有效性。”